Cara Kerja Mikroskop Elektron 3a2r61

Cara Kerja Mikroskop Elektron 1. Mikroskop transmisi elektron (TEM) Mikroskop transmisi eletron saat ini telah mengalami peningkatan kinerja hingga mampu menghasilkan resolusi hingga 0,1 nm (atau 1 angstrom) atau sama dengan pembesaran sampai satu juta kali. Meskipun banyak bidangbidang ilmu pengetahuan yang berkembang pesat dengan bantuan mikroskop transmisi elektron ini. Adanya persyaratan bahwa “obyek pengamatan harus setipis mungkin” ini kembali membuat sebagian peneliti tidak terpuaskan, terutama yang memiliki obyek yang tidak dapat dengan serta merta dipertipis. Karena itu pengembangan metode baru mikroskop elektron terus dilakukan. 2. Mikroskop Pemindai Electron (SEM) Pada SEM, gambar dibua berdasarkan deteksi electron baru (electron sekunder) atau electron pantul yang muncul dari permukaan sample ketika permukaan sample tersebut dipindai dengan sinar electron.elektron sekunder atau electron pantul yang terdeteksi selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian besar amplitudonya ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor CRT (cathode ray tube). Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah diperbesar bisa dilihat. Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sample yang ditipiskan, sehingga isa diigunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang 3 dimensi. 3. Mikroskop Elektron Pemindai Lingkungan (ESEM) Pertama-tama

dilakukan

suatu

upaya

untuk

menghilangkan

penumpukan elektron (charging) di permukaan obyek, dengan membuat suasana dalam ruang sample tidak vakum tetapi diisi dengan sedikit gas yang akan mengantarkan muatan positif ke permukaan obyek, sehingga penumpukan elektron dapat dihindari.

Hal ini menimbulkan masalah karena kolom tempat elektron dipercepat dan ruangfilamen di

mana

elektron

yang

dihasilkan

memerlukan

tingkat vakum yang tinggi. Permasalahan ini dapat diselesaikan dengan

memisahkan sistem pompa vakum ruang obyek dan ruang kolom serta filamen, dengan menggunakan sistem pompa untuk masing-masing ruang. Di antaranya kemudian dipasang satu atau lebih piringan logamplatina yang biasa disebut

(aperture)

berlubang

dengan

diameter

antara

200

hingga

500 mikrometer yang digunakan hanyauntuk melewatkan elektron , sementara tingkat kevakuman yang berbeda dari tiap ruangan tetap terjaga.

4. Mikroskop Refleksi Elektron (REM) Reflection Electron Microscope (REM), adalah mikroskop elektron yang memiliki cara kerja yang serupa dengan cara kerja TEM, namun sistem ini menggunakan deteksi pantulan elektron pada permukaan objek 5. Spin-Polarized Low-Energy Electron Microscopy (SPLEEM) Spin-Polarized Low-Energy Electron Microscopy (SPLEEM) ini adalah merupakan Variasi lain yang dikembangkan dari teknik yang sudah ada sebelumnya, dan digunakan untuk melihat struktur mikro dari medan magnet.

http://apriliafitri04.wordpress.com/2013/01/19/mikroskop-elektron/ http://publikasiilmiah.unwahas.ac.id/index.php/MOMENTUM/article/viewFile/620/7 36 Khan, Bruce. 2002. Hand Out Scanning Electron Mikroscopy. Karlik, Miroslav. 2001. Lattice Imaging In Transmission Electron Microscopy. Department of Materials,Faculty of Nuclear.